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		<title>निरीक्षण on IR Heating Lamp Parts</title>
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		<description>Recent content in निरीक्षण on IR Heating Lamp Parts</description>
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				<title>सेमीकंडक्टर निरीक्षण उपकरण हीटर</title>
				<link>http://ir-heat-parts.com/hi/posts/semiconductor-inspection-tool-heater/</link>
				<pubDate>Tue, 30 Jun 2026 05:28:44 +0800</pubDate>
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				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://ir-heat-parts.com/images/c4487c91a5d0bd93963bf8b3a19ba704.png&#34; alt=&#34;सेमीकंडक्टर निरीक्षण उपकरण हीटर&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;निरीक्षण के दौरान, स्थिरता को डिग्रियों में ही मापा जाता है, मिनटों में नहीं। फोटोरेजिस्ट को गर्म करने के दौरान होने वाला थोड़ा सा बदलाव भी महत्वपूर्ण मापदंडों को प्रभावित कर सकता है; एक छोटा सा कण भी पूरे उत्पाद को नष्ट कर सकता है। हमने इस निरीक्षण उपकरण में ऐसा ही डिज़ाइन इस्तेमाल किया है, ताकि ऐसी अस्थिरताओं को दूर किया जा सके।&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;&lt;strong&gt;हमने क्या किया?&lt;/strong&gt;&lt;br&gt;&#xA;हमने शॉर्ट-वेव इन्फ्रारेड तत्वों एवं क्वार्ट्ज-सुदृढ़ीकृत थर्मल डिज़ाइन का उपयोग किया। उपकरण तेज़ी से गर्म हो जाता है, एवं वेफरों पर तापमान की समानता ±0.1°C तक रहती है। “सॉफ्ट बेक” एवं “हार्ड बेक” दोनों ही स्थितियों में सेटपॉइंट स्थिर रहता है; इससे एक्सपोज़र एवं विकास प्रक्रियाओं में कोई बदलाव नहीं होता।&lt;/p&gt;</description>
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