<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>検査 on IR Heating Lamp Parts</title>
		<link>http://ir-heat-parts.com/ja/tags/%E6%A4%9C%E6%9F%BB/</link>
		<description>Recent content in 検査 on IR Heating Lamp Parts</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>ja</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Tue, 30 Jun 2026 05:28:44 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://ir-heat-parts.com/ja/tags/%E6%A4%9C%E6%9F%BB/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>半導体検査装置用ヒーター</title>
				<link>http://ir-heat-parts.com/ja/posts/semiconductor-inspection-tool-heater/</link>
				<pubDate>Tue, 30 Jun 2026 05:28:44 +0800</pubDate>
				<guid>http://ir-heat-parts.com/ja/posts/semiconductor-inspection-tool-heater/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://ir-heat-parts.com/images/c4487c91a5d0bd93963bf8b3a19ba704.png&#34; alt=&#34;半導体検査装置用ヒーター&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;検査時においては、安定性は分単位ではなく度単位で測定されます。フォトレジストを焼成する際にわずか数十分のずれがあっても、&lt;a href=&#34;https://henruite.com&#34;&gt;重要&lt;/a&gt;な寸法に影響を与える可能性があります。また、粒子の発生も大きな問題となり得ます。そこで、この検査用ヒーターを開発したのです。これにより、そのようなばらつきを&lt;a href=&#34;https://o-yate.com&#34;&gt;排除&lt;/a&gt;できます。&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;&lt;strong&gt;内部構造について&lt;/strong&gt;&#xA;短波長の赤外線素子と、石英を使用した断熱設計を採用しています。加熱速度が速く、ウェーハ全体の均一性は±0.1℃程度です。ソフトベイクでもハードベイクでも、設定値は一定に保たれるため、露光や現像の条件が変動することはありません。&lt;/p&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
