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		<title>精度 on IR Heating Lamp Parts</title>
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		<description>Recent content in 精度 on IR Heating Lamp Parts</description>
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				<title>ウェーハ用高精度IRセンサー</title>
				<link>http://ir-heat-parts.com/ja/posts/ensuring-electrical-integrity-in-precision-ir-sensors-for-wafer-processing/</link>
				<pubDate>Fri, 24 Jul 2026 11:52:59 +0800</pubDate>
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				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://ir-heat-parts.com/images/eeeb9669114c0c0a0b2bef3f902d01a9.png&#34; alt=&#34;ウェーハ用高精度IRセンサー&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;なぜ、IRセンサーの絶縁性能テストをこだわって行うのか？&#xA;私たちの工場から出荷されるすべてのIRセンサーランプについて、必ずテストを行います。一つ残らずです。耐電圧試験や絶縁抵抗試験を行うのは、ウェハ製造過程において、わずかな電気漏れでも大問題になるからです。それによってセンサーが壊れるだけでなく、シリコンの全ロットがダメになってしまう可能性もあります。&lt;/p&gt;</description>
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				<title>電子機器用高精度赤外線ヒーター</title>
				<link>http://ir-heat-parts.com/ja/posts/precision-infrared-heater-for-electronics/</link>
				<pubDate>Tue, 02 Jun 2026 06:18:44 +0800</pubDate>
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				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://ir-heat-parts.com/images/0ea7296bcdd661f341d1983d454c4037.png&#34; alt=&#34;電子機器用高精度赤外線ヒーター&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;h1 id=&#34;300mmラインにおいてフォトレジストのベーク中に05のドリフトが発生するとクリティカルディメンション制御が仕様外に逸脱する要因となるspcチャート上で逸脱が確認されるとスクラップが急速に増加するそこで工程内の熱挙動をシフトごとに安定化させるため電子機器向けの高精度赤外線ヒーターを開発した&#34;&gt;300mmラインにおいて、フォトレジストのベーク中に0.5℃のドリフトが発生すると、クリティカルディメンション制御が仕様外に逸脱する要因となる。SPCチャート上で逸脱が確認されると、スクラップが急速に増加する。そこで、工程内の熱挙動をシフトごとに安定化させるため、電子機器向けの高精度赤外線ヒーターを開発した。&lt;/h1&gt;&#xA;&lt;p&gt;技術的に重要な点：&#xA;本装置はクォーツハロゲン構造の短波長NIRエミッターを搭載しており、応答速度が速く放射加熱であるため、1秒未満で温度が安定する。ベークゾーン全体でウェーハレベルの均一性は±0.1℃以内に保持され、ソフトベークおよびハードベーク後のラインおよびスペース寸法の予測性を確保する。&lt;/p&gt;</description>
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