반도체 검사 장비용 히터

검사 과정에서는 안정성이 분 단위가 아닌 도 단위로 측정됩니다. 포토레지스트를 가열할 때 발생하는 약간의 온도 변화만으로도 치명적인 결과가 초래될 수 있으며, 불순물의 존재도 전체 결과에 큰 영향을 미칩니다. 우리는 이러한 변수들을 제거하기 위해 이러한 검사용 히터를...