半導体検査装置用ヒーター

検査時においては、安定性は分単位ではなく度単位で測定されます。フォトレジストを焼成する際にわずか数十分のずれがあっても、重要な寸法に影響を与える可能性があります。また、粒子の発生も大きな問題となり得ます。そこで、この検査用ヒーターを開発したのです。これにより、そのようなばらつきを排除できます。 内...